SF 33系列
产品描述
SF系列是一款领先的芯片气候环境自动化测试 设备 ，专为满足高端半导体及新一代集成电路研发与生产环节的严苛 测试需求而开发。本系统集成了极限温控、 自动循环、智能监测等多项创新功能 ，为芯 片测试提供可靠、精准、 高效的测试环境。
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