解决方案 - 上海睿测微智能

工业级高低温测试方案

我们的工业级测试系统专为苛刻环境设计，支持-80°C至600°C的全温度范围循环测试，远超行业标准要求。该系统采用双重闭环控制技术，温度波动控制在±0.01°C以内，确保测试数据的高精度和可重复性。

系统配备先进的实时监控平台，可记录温度变化曲线与芯片性能参数的关联性，生成详细测试报告，帮助工程师精确定位潜在的温度敏感问题，提升产品在极端工业环境下的可靠性。

睿测微工业级高低温测试系统配备精密温控单元和数据采集系统

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采用多层隔离舱设计，可同时模拟-196°C至+350°C的极端温度变化、真空环境（10⁻⁶Pa）和辐射条件，为航天级芯片提供全方位的环境测试平台。

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系统核心部件采用航空级材料制造，测量精度达到±0.05°C，并于抗振功率，确保在极端条件下数据采集的稳定性和可靠性，满足航天任务于元器件的严苛质量标准。

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配备16通道高精度数据采集系统，可同时监测芯片温度、电压、电流、功耗等多项参数，实时记录芯片在模拟大空环境中的性能表现和潜在异常。

睿测微汽车电子芯片测试系统严格遵循AEC-Q100标准设计，支持Grade 0（-40°C至+170°C）至Grade 4（0°C至+70°C）全等级测试要求，覆盖温度循环、温度冲击、湿热测试等多种测试类型。

系统采用创新的热管理技术，温度转换速率可达60°C/分钟，大幅缩短测试周期。内置多重安全保护机制，包括过热断电、异常报警和紧急停机功能，确保测试过程安全可控，满足汽车电子日益严格的可靠性和安全性要求。

面对AI芯片高功耗、高集成度的特点，我们开发了专门的全流程测试解决方案。系统支持300W以上高功耗条件下的精准温控，温度均匀性控制在±0.05°C以内，确保大型AI芯片各功能单元的测试一致性。

配备的智能算法可自动识别性能瓶颈，优化测试流程，测试效率提升达40%以上。同时，系统支持海量测试数据的实时分析，帮助工程师快速定位问题，为AI芯片的量产提供坚实保障。

基于十年芯片测试经验，我们的工程师团队可根据客户特定需求，定制开发专属测试方案，解决标准设备无法满足的特殊测试挑战。

提供全天候技术支持和定期维护服务，确保测试设备长期稳定运行。关键部件采用模块化设计，维护简便，最大限度减少停机时间。

配套专业数据分析软件，支持海量测试数据的深度挖掘和可视化展示，帮助工程师发现隐藏的性能问题和优化方向。

睿测微智能秉承"精准测试，智造未来"的理念，致力于为客户提供最专业、最可靠的芯片测试解决方案。无论您面临何种测试挑战，我们都能为您量身定制最适合的测试方案，助力您的产品在极端环境中保持卓越性能。